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电子电器有害物质检测技术

日期:2017-05-24【返回上一级】


http://www.testrust.com 来源:检测通
X射线荧光光谱技术
    X射线荧光光谱分析技术不具有破坏性,谱线简单易看一目了然,X射线荧光光谱仪能够不需要提前进行化学处理实时对样品进行鉴别。
   所有采用光谱分析技术的都不能避免光谱和背景的干扰。根据原子内层电子跃迁释放的能量和谱线进行的XRF分析技术,光谱比较简单,谱线之间较少干扰,通常是试样基体矿物效应和自身元素的增强吸收效应干扰。矿物效应一般运用熔融制样来降低和消除影响,自身元素的增强吸收效应则是运用扩大稀释的比例或基体校正模式来降低或消除影响。
    这种方法运用的比较普遍,例如:张香荣采用了试样与熔剂按1:10的比例熔融制样,得出炉渣及原材料中存在的8种成分。背景扣除的正确与否需要根据分析样品的基体、背景的位置、含量的多少慎重选择。对于相同品种、相同品名的样品进行检测时,背景差异不会很大,峰背相对比较小的时候,可以不用扣背景,如果选择不慎将会得出错误的结果。例如:魏培德采用了公共背景法分析样品中存在的11种元素,通过合理的延长公共背景点的测量时间,减少了背景测量可能出现的随机误差,而且也有效的降低了检出限。

气相色谱与质谱联用技术
    此技术具有破坏性,却能够精准的得到检测结果。因为虽然用气相色谱仪能够检测一些特殊的化合物,不受其他符合复杂基质的干扰,但通过用相同的检测器不能同时检测多类化合物。但是采用气相色谱质谱联用技术提取离子色谱、选择离子进行检测等可以降低化学噪声对测试的影响,分离出总离子图上没有分离开来的色谱峰。而且经过多次测试表明质谱仪定量分析大部分没有气相色谱仪精准,而气相色谱质谱联用可以运用同位素稀释和内标技术,使定量分析结果精准度更高。气相色谱质谱联用仪在一些低浓度的定量分析中,精确度又高于气相色谱仪。所以运用气相色谱和质谱联用技术能更加准确的检测电子电器产品中残留的有害物质。

比色技术
    此技术根据的原理是在酸性溶液中,六价铬与二苯基二氨发生化学反应,生成紫红色物质,然后通过使用分光光度计算其吸光度就可以确定物质的含量。

 比色法操作简单,但不适用于所有的镀种,只能用于成分比较简单的、显色明显的、不容易受到干扰的溶液。还有一些有颜色添加剂的溶液也是无法测试。

原子发射光谱技术
    此技术是根据各种元素的原子(离子)在热的激发下或者在电的激发下,发射有不同特征的电磁辐射,根据此结果进行元素的定性和定量分析。这种技术可以通过一个样品的激发使多种元素同时检测出来,不同的元素会发射出具有不同特征的谱线,可以根据谱线进行更进一步的测定;分析样品的速度很快;具有良好的选择性,对一些相似的元素分析精准;检测时需要的样品量较少,适用于样品数目大时进行多组分别检测,尤其是在定性分析方面有着超强的优势。但影响谱线强度的因素很多,在对标准参比的组分要求很精准,会有一定的误差,容易出现测试结果的偏差;非金属元素不适合运用此方法进行试验;只能分析被检测物的元素,不能进行形态结构的检测;对含量浓度较大的被检测物分析不精准。


 

 

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